[发明专利]晶粒尺寸的相控阵超声评价方法有效
| 申请号： | 202110330345.3 | 申请日： | 2021-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN113029880B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 关雪飞;刘雨 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院研究生院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N29/11;G01N29/44;G16C60/00 |
| 代理公司： | 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 | 代理人： | 王冬杰 |
| 地址： | 100088*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种晶粒尺寸的相控阵超声评价方法，该方法包括：利用一次底面回波和二次底面回波得到实验纵波散射衰减系数；由惠更斯原理推导出线性相控阵探头辐射声场，通过探头接收平均声压，定义线性相控阵探头的衍射修正系数并计算最终衍射修正系数；根据Weaver超声散射模型，得到晶粒尺寸和纵波散射衰减系数理论关系，基于非线性最小二乘法，利用多项式拟合得到晶粒尺寸和理论纵波散射衰减系数的代理模型；将剔除衍射损失后的实验纵波散射衰减代入到代理模型中，反演出晶粒尺寸值。本发明剔除了衍射损失干扰，融合多角度声束信息，相比于传统方法，相对误差大大降低，为多晶材料的晶粒尺寸估算提供了一种可行、可靠的手段。 | ||
| 搜索关键词： | 晶粒 尺寸 相控阵 超声 评价 方法 | ||
【主权项】：
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