[发明专利]一种提高薄膜应用频率的薄膜制备方法在审

专利信息
申请号: 202110324953.3 申请日: 2021-03-26
公开(公告)号: CN113088893A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 孙科;张婧;何宗胜;余忠;邬传健;蒋晓娜;兰中文 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: C23C14/30 分类号: C23C14/30;C23C14/14;H01F41/20
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 吴姗霖
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种提高NiFe薄膜应用频率的制备方法,属于薄膜制备技术领域。包括:1)清洗衬底;2)衬底固定在样品架上,所述衬底与样品架呈θ角,并且在衬底上施加磁场;3)利用高真空电子束蒸发系统,在背底真空为1.3×10‑4Pa~2.0×10‑4Pa、预熔料时电子枪电流为30mA~40mA、电压为10kV的条件下预熔料4~5min;预熔料结束后,设置蒸镀速率为0.1nm/s~0.7nm/s,在衬底上沉积软磁薄膜。本发明得到的软磁薄膜应用频率大于1GHz(最高为1.39GHz),并且磁导率达到1000左右,得到了同时兼顾高应用频率、高磁导率的薄膜。
搜索关键词: 一种 提高 薄膜 应用 频率 制备 方法
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