[发明专利]光学传感器诊断在审
| 申请号： | 202110294967.5 | 申请日： | 2021-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN113494934A | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | H·范德布洛克 | 申请（专利权）人： | 迈来芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 黄嵩泉;张鑫 |
| 地址： | 比利时*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于诊断光学传感器的方法(100)，该光学传感器包括光电探测器和积分器。该方法包括：将光电探测器暴露于(110)入射光；在初始帧处获得(120)初始积分信号；执行以下步骤至少一次：改变(130)光学传感器的至少一个控制参数，将光电探测器暴露于(110)入射光，并在后续帧处获得(140)一个或多个后续积分信号；从所获得的积分信号中获得(150)光学传感器的特性；将所获得的特性与光学传感器的预定特性进行比较(160)以诊断光学传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 传感器 诊断 | ||
【主权项】：
暂无信息
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