[发明专利]光学传感器诊断

权利要求书

1.一种用于诊断光学传感器的方法(100)，所述光学传感器包括光电探测器和积分器，

所述方法包括：

将所述光电探测器暴露于(110)入射光，

在初始帧处获得(120)初始积分信号，

执行以下步骤至少一次：改变(130)所述光学传感器的至少一个控制参数，将所述光电探测器暴露于(110)入射光，并在后续帧处获得(140)一个或多个后续积分信号，

其中，逐帧获得积分信号，并且帧包括重置所述光学传感器、并在积分时间内累积来自连接所述光电探测器与所述积分器的电路的信号、并且读取所述积分信号的至少一个序列，

从所获得的积分信号中获得(150)所述光学传感器的特性，

将所获得的特性与所述光学传感器的预定特性进行比较(160)，其中，所述预定特性是根据至少一个控制参数来定义的，以诊断所述光学传感器。

2.根据权利要求1所述的方法(100)，其特征在于，至少一个控制参数是所述积分时间。

3.根据权利要求2所述的方法(100)，其特征在于，所述积分时间具有从50％至150％范围内的比率。

4.根据权利要求1所述的方法(100)，其特征在于，至少一个控制参数是所述光学传感器的增益。

5.根据权利要求1所述的方法(100)，其特征在于，所述积分信号V_输出(t)被建模为g*t+V_偏移，其中g和V_偏移是从所获得的积分信号中获得的光学传感器的特性。

6.根据权利要求1所述的方法(100)，其特征在于，所述光学传感器的特性是通过划分后续的积分信号而获得的。

7.一种光学传感器(200)，所述光学传感器包括光电探测器(210)、积分器(220)、以及连接所述光电探测器(210)与所述积分器(220)的电路，使得来自所述光电探测器的信号或其经处理的版本可以在所述积分器上被累积，所述光学传感器(200)包括控制器(230)，所述控制器(230)被配置用于：

在初始帧处获得初始积分信号，

执行以下步骤至少一次：改变光学传感器的至少一个控制参数，并在后续帧处获得一个或多个后续积分信号，

其中，逐帧获得积分信号，并且帧包括重置所述光学传感器、并在积分时间内累积来自连接所述光电探测器与所述积分器的所述电路的信号、并且读取所述积分信号的至少一个序列，

从所获得的积分信号中获得光学传感器的特性，

将所获得的特性与光学传感器的预定特性进行比较，其中，预定特性是根据至少一个控制参数来定义的，以诊断光学传感器。

8.根据权利要求7所述的光学传感器(200)，其特征在于，所述积分器(220)包括多个并联电容器，其中所述控制器被配置成用于连接积分器的一个或多个电容器或断开对积分器的一个或多个电容器的连接。

9.根据权利要求8所述的光学传感器(200)，所述光学传感器包括增益晶体管(240)，所述增益晶体管被配置成用于连接来自所述积分器的所述多个并联电容器中的电容器或断开对来自所述积分器的所述多个并联电容器中的电容器的连接。

10.根据权利要求7所述的光学传感器(200)，所述光学传感器(200)包括重置晶体管(250)，所述重置晶体管被配置成用于对积分器电压进行重置。