[发明专利]一种微通道半导体激光器外观检验装置及检验方法在审
| 申请号： | 202110287626.5 | 申请日： | 2021-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN115106310A | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 张广明;刘琦;李沛旭;姚爽 | 申请（专利权）人： | 山东华光光电子股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;B07C5/38 |
| 代理公司： | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人： | 赵龙群 |
| 地址： | 250101 山东省济*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微通道半导体激光器外观检验装置及检验方法，属于半导体激光器技术领域。装置包括底座、固定盘、料盘、固定条、CCD摄像机和竖支撑，其中，底座上滑动设置固定盘，固定盘上设置料盘，料盘内均匀设置固定条，固定条内设置微通道半导体激光器，微通道半导体激光器腔面朝上，底座一侧设置竖支撑，竖支撑顶端滑动连接CCD摄像机，CCD摄像机镜头朝下。本发明结构简单、操作方便、生产效率高，实现了微通道半导体激光器的自动化检验，提高了检验效率和检验准确性，降低了人工成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通道 半导体激光器 外观 检验 装置 方法 | ||
【主权项】：
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