[发明专利]一种IGBT/SiC器件损耗自动检测装置及其检测方法在审
| 申请号： | 202110269813.0 | 申请日： | 2021-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN113125923A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 孙厚强;张高瑞;秦浩楠;李小伟;王知学 | 申请（专利权）人： | 青岛中微创芯电子有限公司;山东交通学院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人： | 张仁杰 |
| 地址： | 266500 山东省青岛市黄岛区*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IGBT/SiC器件损耗自动检测装置及其检测方法，包括依次传递数据的IGBT/SiC器件控制电路模块、驱动模块与IGBT/SiC器件，本发明通过IGBT/SiC器件损耗自动检测装置可以实时监控IGBT/SiC功率器件工作状态，提升应用系统运行的安全性及可靠性，大大降低系统工作维护成本，避免由于应用系统故障导致的人身事故及财产损；可有效保护硬件电路安全，降低设备故障率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 igbt sic 器件 损耗 自动检测 装置 及其 检测 方法 | ||
【主权项】：
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