[发明专利]硬盘性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202110266499.0 申请日: 2021-03-11
公开(公告)号: CN113035266A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 张迎华;辛云龙;蒲嘉鹏;王天春;王宇轩;王瑞 申请(专利权)人: 曙光信息产业(北京)有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 景怀宇
地址: 100089 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请涉及一种硬盘性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括:在待检测硬盘与服务器通过工装隔离连接的情况下,服务器获取多个待检测硬盘对应的性能基准值,在多个待检测硬盘插入服务器的情况下,获取预设风扇转速下各待检测硬盘的性能测试值,根据各待检测硬盘的性能测试值和对应的性能基准值,确定各待检测硬盘的性能信息。在本方法中,待检测硬盘在与服务器隔离的情况下测试硬盘的性能基准值,不受服务器运行环境的影响,比较准确,在包含服务器运行环境、多个待检测硬盘之间的影响的环境下测试不同风扇转速下待检测硬盘的性能测试值,贴合实际情况,从而基于性能基准值和性能测试值得到的硬盘性能的分析结果准确、可靠。
搜索关键词: 硬盘 性能 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【主权项】:
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