[发明专利]硬盘性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质在审
申请号: | 202110266499.0 | 申请日: | 2021-03-11 |
公开(公告)号: | CN113035266A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 张迎华;辛云龙;蒲嘉鹏;王天春;王宇轩;王瑞 | 申请(专利权)人: | 曙光信息产业(北京)有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 景怀宇 |
地址: | 100089 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硬盘 性能 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
1.一种硬盘性能测试方法,其特征在于,所述方法包括:
在待检测硬盘与服务器通过工装隔离连接的情况下,获取多个待检测硬盘对应的性能基准值;
在所述多个待检测硬盘插入所述服务器的情况下,获取预设风扇转速下各所述待检测硬盘的性能测试值;
根据各所述待检测硬盘的性能测试值和对应的性能基准值,确定各所述待检测硬盘的性能信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取多个待检测硬盘对应的性能基准值,包括:
按照预设的采集次数与采集间隔,获取所述待检测硬盘的多个初始性能基准值;所述初始性能基准值为在所述待检测硬盘与服务器通过工装隔离连接的情况下,所述待检测硬盘执行读写操作所产生的性能数据;
根据所述多个初始性能基准值,确定所述待检测硬盘的性能基准值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个初始性能基准值,确定所述待检测硬盘的性能基准值,包括:
从所述待检测硬盘的多个初始性能基准值中,按照采集次序,剔除第一个初始性能基准值和最后一个初始性能基准值;
计算所述待检测硬盘的所有剩余初始性能基准值的平均值作为所述待检测硬盘的性能基准值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所有所述待检测硬盘的性能基准值,计算所有所述待检测硬盘的总平均性能基准值;
计算所述总平均性能基准值与各所述待检测硬盘的性能基准值的差值;
若当前待检测硬盘的差值处于预设的第一差值范围内,则确定所述当前待检测硬盘正常;
若当前待检测硬盘的差值处于所述第一差值范围之外,则确定所述当前待检测硬盘异常。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取预设风扇转速下的各所述待检测硬盘的性能测试值,包括:
通过基板管理控制器BMC控制所述服务器的风扇转速分别达到不同的所述预设风扇转速;
在不同的所述预设风扇转速下,分别获取各所述待检测硬盘的性能测试值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据各所述待检测硬盘的性能基准值和性能测试值,确定各所述待检测硬盘的性能信息,包括:
根据各所述待检测硬盘在不同的所述预设风扇转速下的性能测试值和性能基准值,计算各所述待检测硬盘在不同所述预设风扇转速下的性能降低比;
根据所述性能降低比,确定各所述待检测硬盘的性能信息。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述性能降低比,确定各所述待检测硬盘的性能信息,包括:
若所述待检测硬盘的性能降低比处于所述预设风扇转速对应的阈值范围内,则确定在所述预设风扇转速下,所述待检测硬盘的性能良好;
若所述待检测硬盘的性能降低比处于所述预设风扇转速对应的阈值范围之外,则确定在所述预设风扇转速下,各所述待检测硬盘的性能差。
8.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
调用扫描工具对所有所述待检测硬盘的扇区进行坏块检测;
若所述待检测硬盘的扇区存在坏块情况,则更换所述待检测硬盘,并返回执行调用扫描工具对所有所述待检测硬盘的扇区进行坏块检测步骤,直到检测到所有所述待检测硬盘的扇区均不存在坏块的情况下,执行所述获取各所述待检测硬盘对应的性能基准值的步骤。
9.一种硬盘性能测试装置,其特征在于,所述装置包括:
第一获取模块,用于在待检测硬盘与服务器通过工装隔离连接的情况下,获取多个待检测硬盘对应的性能基准值;
第二获取模块,用于在所述多个待检测硬盘插入所述服务器的情况下,获取预设风扇转速下各所述待检测硬盘的性能测试值;
确定模块,用于根据各所述待检测硬盘的性能测试值和对应的性能基准值,确定各所述待检测硬盘的性能信息。
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