[发明专利]一种基于偏序关系的通用并发缺陷检测方法及系统在审
| 申请号： | 202110265363.8 | 申请日： | 2021-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN115080374A | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 蔡彦;云昊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院软件研究所 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 | 代理人： | 李文涛 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种基于偏序关系的通用并发缺陷检测方法及系统，属于软件测试技术领域和软件可靠性领域，可以将多种并发缺陷经过转化得到待测序列，进而进行检测，本发明不局限于某一种特定的并发缺陷，能够检测数据竞争、死锁、原子性违背等多种并发缺陷。能够在多项式时间内得到检测结果，且检测得到的缺陷都是真实的，没有误报情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 关系 通用 并发 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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