[发明专利]基于交叉偏振波产生获得取样光的对比度单发测量仪在审
| 申请号： | 202110249703.8 | 申请日： | 2021-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN113049119A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 刘军;王鹏;申雄;黄舜林 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种适用于拍瓦激光的基于交叉偏振波产生获得取样光的对比度单发测量仪，该测量仪包括分束片、第一线偏振器、聚焦元件、第一反射镜、第一三阶非线性晶体、第二三阶非线性晶体，第二反射镜、第二线偏振器、第三反射镜、第一反射聚焦元件、第四反射镜、四分之一波片、第五反射镜、第六反射镜、第七反射镜、第八反射镜、第二反射聚焦元件、非线性晶体、衰减片、第一聚焦透镜、第二聚焦透镜、光谱滤波片和数据采集装置。本发明可以为高强度激光脉冲的对比度提升和应用研究提供重要的测量支持。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 交叉 偏振 产生 获得 取样 对比度 单发 测量仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所，未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110249703.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种放射科影像诊断阅片放置设备
- 下一篇：一种适用于地址编码的SPAD阵列
