[发明专利]一种原料杂质自动检验控制系统

摘要

本申请公开了一种原料杂质自动检验控制系统，包括集散控制单元、上位机，集散控制单元连接控制粗破碎装置、细破碎装置、水分检测仪、除尘装置、料斗仓，所述集散控制单元包括变频回路、电动机回路和软启回路。具有以下优点：配备原料杂质自动检验系统后，可以实现整包化验，只需记录整包重量，进入上料链板后经粗破碎、细破碎、筛分绞龙后杂质进入料斗仓，料斗称测量杂质重量后杂质排入风送系统；杂质重量与整包重量计算后得出含杂量；整包水分检测可实时测量物料的整包水分，为原料质量检验提供可靠的检验数据。