[发明专利]X射线双视野显微成像探测系统及其成像方法有效
| 申请号： | 202110188595.8 | 申请日： | 2021-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN112986286B | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 邹晶;胡晓东;夏小琴 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 孙蕾 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种X射线双视野显微成像探测系统，包括：光路延长装置，用于扩展所述系统的应用，使大部分显微物镜能够集成到所述系统；双视野成像装置，用于获取两种视野下不同分辨率的图像；配准调节装置，用于获得配准的原始图像。本发明还提供了一种基于如上所述的X射线双视野显微成像探测系统的截断数据校正重建的成像方法。本发明校正了截断数据重建图像的亮环伪影，使感兴趣区域重建图像的数值更接近真实值。本发明实现了大样品全局图像的重建，且重建图像包含高分辨率的感兴趣区域。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 视野 显微 成像 探测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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