[发明专利]基于空间正交三轴应力加载条件下的单片磁特性测量装置有效
| 申请号： | 202110174834.4 | 申请日： | 2021-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN112986874B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 张长庚;陈涛;李永建;杨庆新 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210 | 代理人： | 赵凤英 |
| 地址： | 300130 天津市红桥区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明为一种基于空间正交三轴应力加载条件下的单片磁特性测量装置，该测量装置包括控制模块、激磁模块、三轴应力施加模块和测量模块；该测量装置将所需的测量传感器设置于z轴压应力结构中的压柱内部，其中B传感器为测量B探针传感器，H传感器为双线圈传感器，测量样品设计为带有连续曲率弧度的十字单片样品。该测量装置的空间正交三轴应力施加方向为平面内的X、Y轴方向以及空间内的Z轴方向，其中X、Y两轴通过牵引电机施加拉(压)应力，Z轴方向通过液压器施加压应力。该测量装置针对空间正交三轴应力加载条件下的单片样品磁特性进行测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 空间 正交 应力 加载 条件下 单片 特性 测量 装置 | ||
【主权项】：
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