[发明专利]半导体器件及相关模块、电路、制备方法在审

专利信息
申请号: 202110170393.0 申请日: 2021-02-07
公开(公告)号: CN113054010A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 杨文韬;戴楼成;宋超凡;左慧玲;杜江;侯召政;黄伯宁 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06;H01L21/335
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强;李稷芳
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种半导体器件及相关模块、电路、制备方法,该器件包括:N型漂移层、P型基极层、N型发射极层、栅极、场截止层和P型集电极层等,其中,场截止层包括依次层叠于N型漂移层的表面的第一掺杂区和第二掺杂区,第一掺杂区的杂质的粒子半径小于第二掺杂区的杂质的粒子半径,第一掺杂区和第二掺杂区的掺杂浓度均高于N型漂移层的掺杂浓度。上述半导体器件,可以有效降低IGBT的集电极与发射极之间的漏电流。
搜索关键词: 半导体器件 相关 模块 电路 制备 方法
【主权项】:
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