[发明专利]一种基于ICT和FCT的软失效预测方法在审

专利信息
申请号: 202110167707.1 申请日: 2021-02-05
公开(公告)号: CN114861585A 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 刘祖耀;颜志强;张海贝;汪中博;刘路 申请(专利权)人: 深圳长城开发科技股份有限公司
主分类号: G06F30/367 分类号: G06F30/367;G06N20/00;G06F119/02
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 郭伟刚
地址: 518109 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种基于ICT和FCT的软失效预测方法,包括以下步骤:步骤S1、从产品的ICT和FCT测试项目中筛选出重点关注测试项目;收集因重点关注测试项目相关问题而被客退的产品的ICT和FCT测试数据,从而组成非正常数据集;步骤S2、根据所述被客退的产品的生产时间,获取同一批次但未被客退的产品的ICT和FCT测试数据,从而组成正常数据集;步骤S3、基于非正常数据集和正常数据集,构建用于根据产品的ICT和FCT测试数据预判产品是否存在软失效的软失效预测模型;步骤S4、根据软失效预测模型,实时分析产品的ICT和FCT测试数据,从而预测产品是否存在软失效。本发明的软失效预测方法设计新颖,实用性强。
搜索关键词: 一种 基于 ict fct 失效 预测 方法
【主权项】:
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