[发明专利]一种多粒度的内存检测方法、内存设备以及电子设备在审
| 申请号： | 202110112979.1 | 申请日： | 2021-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN112685241A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 李莹;王建;陈岚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F3/06;G06F21/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 姚璐华 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请技术方案公开了一种多粒度的内存检测方法、内存设备以及电子设备，本申请技术方案能够在Soc芯片运行时，对Soc芯片中内存模块进行检测，所述存储模块分为多个内存子模块，所述内存子模块包括多个内存单元；所述内存检测方法包括：当具有新内存检测任务时，判断是否满足内存检测条件；如果是，获取内存检测策略以及对应配置的粒度参数；基于所述内存检测策略以及所述粒度参数，对所述内存子模块中的所述内存单元进行抽样检测。本申请技术方案通过对内存模块进行分开，形成多个内存子模块，基于所述内存检测策略以及所述粒度参数对所述内存子模块中的所述内存单元进行抽样检测，能够提高检测灵活度，平衡系统开销。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粒度 内存 检测 方法 设备 以及 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所，未经中国科学院微电子研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110112979.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种沥青路面芯样分离器
- 下一篇：一种基于建筑钢结构自动爬升换向的除锈装置
