[发明专利]一种利用常规四级质谱仪准确测量氢、氘、氦分压的方法有效
| 申请号： | 202110111092.0 | 申请日： | 2021-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN112924522B | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 余耀伟;陈跃;曹斌;王俊儒;左桂忠;胡建生 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 张乾桢 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： |
本发明提出一种利用常规四级质谱仪准确测量氢、氘、氦分压的方法，通过选择低(15.4‑24.5eV之间)和高(25.3eV)两种电离能，根据氢气、氘气和氦气三种气体的分子及原子电离阈值不同的特性，区分H |
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| 搜索关键词： | 一种 利用 常规 质谱仪 准确 测量 氦分压 方法 | ||
【主权项】：
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