[发明专利]观察用治具在审
| 申请号： | 202110097309.7 | 申请日： | 2021-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN113189098A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 楠欣浩 | 申请（专利权）人： | 株式会社迪思科 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 乔婉;于靖帅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供观察用治具，其用于容易地观察封装器件芯片等芯片的侧面。观察用治具(2)具有：台(4)，其在正面具有对芯片(34)进行保持的粘接层(10)；框体(6)，其具有与台(4)的背面对应地形成的贯通开口(20)，并且该框体(6)将台(4)支承为能够以从躺卧状态变化为立起状态的方式旋转；以及基台(8)，其具有突起(30)，该突起(30)插入于贯通开口(20)并使台(4)从躺卧状态成为立起状态。 | ||
| 搜索关键词： | 观察 用治具 | ||
【主权项】：
暂无信息
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