[发明专利]一种土样固定仪及土样微观结构演变规律测定装置与方法有效

专利信息
申请号: 202110062256.5 申请日: 2021-01-18
公开(公告)号: CN112903418B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 孙银磊;汤连生;王玉玺 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: G01N3/02 分类号: G01N3/02;G01N3/08
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 李英杰
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及土壤检测领域,具体涉及一种土样固定仪及土样微观结构演变规律测定装置与方法,包括下土样盒和上土样盒,所述上土样盒和上土样盒之间设置有套管,所述套管连通所述下土样盒与上土样盒;所述下土样盒底部设置有下固定座,所述上土样盒底部设置有上固定座;所述下固定座和上固定座之间设置有第一连接杆。本发明测定装置结构简单,而且获得土样不同角度的微观结构图,实现测试受拉土样内部微观结构包括土体孔隙结构及分布、裂隙的发育程度、颗粒大小、颗粒接触距离、颗粒接触方式等的动态演变规律,而且测试精度高。
搜索关键词: 一种 固定 微观 结构 演变 规律 测定 装置 方法
【主权项】:
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