[发明专利]一种对LED芯片进行非接触式光电检测的装置及方法有效
申请号: | 202110060509.5 | 申请日: | 2021-01-18 |
公开(公告)号: | CN112858864B | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 吕毅军;张人予;倪祖荣;钟晨明;朱丽虹;高玉琳;陈忠 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人: | 卜科武 |
地址: | 361000 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开了一种对LED芯片进行非接触式光电检测的装置及方法。装置包括参考LED芯片、短接装置、示波器、感应线圈、光学测量装置、电阻、第一电流源和第二电流源。其中,示波器并联在电阻两端,电阻、第一电流源和感应线圈串联成第一闭合回路,短接装置用于放置待测LED芯片且使得待测LED芯片的两个电极短接成第二闭合回路,参考LED芯片与第二电流源串联形成第三闭合回路,第二闭合回路和第三闭合回路与感应线圈的磁场方向同轴。光学测量装置位于短接装置的一侧且采光方向对准待测LED芯片。装置分别记录两个互感效应过程中电路的参数变化,计算得待测LED芯片的电压数据和电流数据,再获取待测LED芯片的光学参数,实现对LED芯片进行非接触式光电检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 led 芯片 进行 接触 光电 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
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