[发明专利]一种基于FPGA在数字测试通道上实现定制模块的方法在审
| 申请号： | 202110053251.6 | 申请日： | 2021-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN112858892A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 魏津;张经祥;胡雪原 | 申请（专利权）人： | 胜达克半导体科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 | 代理人： | 方燕娜;王雯婷 |
| 地址： | 201799 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种基于FPGA在数字测试通道上实现定制模块的方法。具体测试方法如下：S1：根据通用模块的资源用量，为每个数字通道的定制模块规划资源数量；S2：设计定制模块；S3：将通用模块及定制模块与主控模块连接；S4：当用户需要定制功能时，开发定制功能模块；S5：确定定制功能模块后，定制模块内的其他资源数量用若干冗余模块填补；S6：实际测试中，当需要通用模块测试时，模式切换寄存器切换到0选择通用模式；当需要定制模块测试时，模式切换寄存器切换到1选择定制模式。同现有技术相比，在自动测试机上扩展出可定制化的测试通道功能，其控制逻辑通过现场可编程逻辑芯片FPGA来实现，增加了测试通道的测试功能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 数字 测试 通道 实现 定制 模块 方法 | ||
【主权项】：
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