[发明专利]一种基于FPGA在数字测试通道上实现定制模块的方法在审

专利信息
申请号: 202110053251.6 申请日: 2021-01-15
公开(公告)号: CN112858892A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 魏津;张经祥;胡雪原 申请(专利权)人: 胜达克半导体科技(上海)有限公司
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317
代理公司: 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 代理人: 方燕娜;王雯婷
地址: 201799 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 fpga 数字 测试 通道 实现 定制 模块 方法
【权利要求书】:

1.一种基于FPGA在数字测试通道上实现定制模块的方法,包括数字通道、可编程逻辑芯片FPGA,其特征在于:具体测试方法如下:

S1:根据通用模块的资源用量,为每个数字通道的定制模块规划资源数量,即可编程逻辑芯片FPGA内部的逻辑细胞logic cell的资源数量;

S2:设计定制模块,该模块具有固定的对外信号接口,占用固定的全局信号资源,并且占用固定的电路单元资源;所述的定制模块内部包括定制功能模块及冗余模块;

S3:将通用模块及定制模块通过模式切换寄存器与自动测试机的主控模块连接;

S4:当用户需要定制功能时,按照标准模型的接口来开发定制功能模块;

S5:确定定制功能模块后,定制模块内的其他资源数量用若干冗余模块填补,以满足整个定制模块的资源数量;

S6:实际测试中,当需要通用模块测试时,主控模块将信号发送给模式切换寄存器,模式切换寄存器切换到0选择通用模式;当需要定制模块测试时,主控模块将信号发送给模式切换寄存器,模式切换寄存器切换到1选择定制模式。

2.根据权利要求1所述的一种基于FPGA在数字测试通道上实现定制模块的方法,其特征在于:所述的建立定制模块的具体流程如下:

S11:已知可编程逻辑芯片FPGA的查找表LUT及触发器Flop的资源总量;

S12:根据逻辑细胞logic cell的资源数量来规划通用模块的资源量;

S13:可编程逻辑芯片FPGA的资源总量减去通用模块的资源量,剩下的资源量根据需要建立若干定制模块;每个定制模块内部包含定制功能模块及若干冗余模块;

S14:根据实际测试需要,配备测试功能的定制功能模块;

S15:确定好每个定制模块内部的具体功能后,每个定制模块内部的其他逻辑细胞logic cell的资源由若干冗余模块填补。

3.根据权利要求1或2所述的一种基于FPGA在数字测试通道上实现定制模块的方法,其特征在于:单个冗余模块占用1个逻辑细胞logic cell的资源数量。

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