[发明专利]一种基于同步辐射Q-XAS对砷与铬的氧化还原反应速率进行监测的方法在审
| 申请号： | 202110032382.6 | 申请日： | 2021-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN112858355A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 王小明;应虹;冯雄汉;黄巧云;刘凡 | 申请（专利权）人： | 华中农业大学 |
| 主分类号： | G01N23/083 | 分类号： | G01N23/083 |
| 代理公司： | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人： | 徐绍新 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于同步辐射快速X射线吸收光谱(Q‑XAS)对砷与铬的氧化还原反应速率进行实时监测的方法，包括以下步骤：(1)将含Cr(VI)和As(III)的悬液加入到侧面以透明kapton薄膜密封的开口反应器中，在一定背景电解质条件下开始反应，透明薄膜对悬液进行X射线扫描，采集As或Cr的K‑边XAS光谱，连续采集直至反应结束；(2)将采集的光谱通过Athena软件进行预处理和线性拟合，得到目标元素形态含量随反应时间的变化，而后利用动力学方程对数据点进行拟合，即可得到As(III)与Cr(VI)发生氧化还原反应的速率常数，与现有技术相比，该方法具有实时、高效、准确等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 同步 辐射 xas 氧化 还原 反应 速率 进行 监测 方法 | ||
【主权项】：
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