[发明专利]压后评价方法、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110025881.2 | 申请日： | 2021-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN114741980A | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 周彤;王海波;李凤霞 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号： | G06F30/28 | 分类号： | G06F30/28;E21B43/26;G06F113/08;G06F119/14 |
| 代理公司： | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人： | 孙向民;廉莉莉 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明提出了一种压后评价方法、电子设备及介质。压后分析方法包括：计算沿程‑射孔摩阻P |
||
| 搜索关键词： | 评价 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，未经中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110025881.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
