[发明专利]去耦合电容的漏电流阻挡电路和漏电流阻挡方法在审
申请号: | 202110018785.5 | 申请日: | 2021-01-07 |
公开(公告)号: | CN114744600A | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 苏宏德 | 申请(专利权)人: | 瑞昱半导体股份有限公司 |
主分类号: | H02H9/02 | 分类号: | H02H9/02 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 黄艳;郑特强 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种去耦合电容的漏电流阻挡电路和漏电流阻挡方法。去耦合电容的第一端耦接电源电压,漏电流阻挡电路则耦接于去耦合电容的第二端和接地电压间,且其包括至少一开关。该至少一开关用来当去耦合电容未损坏时,提供通道来让去耦合电容耦接至接地电压,并且当去耦合电容损坏时,该至少一开关被关闭来阻挡去耦合电容的漏电流。 | ||
搜索关键词: | 耦合 电容 漏电 阻挡 电路 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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