[发明专利]一种用于单晶片厚度检测设备

摘要

本发明公开了一种用于单晶片厚度检测设备，包括检测装置，所述检测装置内还设有进行单晶片厚度检测的检测机构，所述检测装置内还设有提供装置动力的驱动机构，所述检测装置内还设有进行输送单晶片的辅助机构，该装置结构简单，操作便捷，该装置在正常使用时工作人员首先将装置放置在水平桌面上，然后再将单晶片放置在装置内，需逐个放置，之后装置会自动进行单晶片厚度的检测，当单晶片厚度位于检测合格的区间范围时，此时装置会自动将合格的单晶片放置在一起，若在此区间外，则处于不合格，此时单晶片会统一放置在不合格区，提高了单晶片厚度测量以及单晶片筛选的效率，降低了工作人员的劳动强度。