[发明专利]自动分析系统、控制装置及清洗方法在审
| 申请号： | 202080094146.0 | 申请日： | 2020-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN115004039A | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 森高通;龟山大树;伊藤匠;高桥健一;大泷智正 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/10 | 分类号： | G01N35/10 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;范胜杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 为了得到可靠性高的测定结果，本发明的特征在于，具有：自动分析装置(100)和控制部(200)，自动分析装置(100)具有进行检体的吸引和排出的检体探针(122)、以及具有使检体探针(122)至少从收纳有检体的检体容器(152)的位置向被分注检体的反应容器(131)的位置移动的检体分注部(121)，并进行在从检体容器(152)吸引检体与向反应容器(131)排出检体之间对检体探针(122)的周围排出清洗水的第1清洗的检体探针清洗部(110)，所述控制器(200)在规定的检查项目中，控制第1清洗中的清洗水的排出和停止。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 系统 控制 装置 清洗 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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