[发明专利]测量装置和测量方法在审
| 申请号： | 202080083340.9 | 申请日： | 2020-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN114746764A | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | E·D·赫布施莱布;水落宪和;芳井义治 | 申请（专利权）人： | 胜美达集团株式会社;国立大学法人京都大学 |
| 主分类号： | G01R33/26 | 分类号： | G01R33/26;G01R33/032 |
| 代理公司： | 北京智晨知识产权代理有限公司 11584 | 代理人： | 张婧 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 磁共振构件(1)是配置在被测量交流物理场内且能够在规定的量子系统中进行量子操作的构件，线圈(2)和高频电源(3)对该磁共振构件(1)施加微波的磁场，照射装置(4)对该磁共振构件(1)照射光，检测装置(5)从该磁共振构件(1)检测与被测量交流物理场对应的物理现象；然后，测量控制部(21)执行规定多次的直流物理场测量序列，在各个直流物理场测量序列中，确定由检测装置(5)检测到的物理现象的检测值，运算部(22)根据与多次的直流物理场测量序列对应的检测值，运算被测量交流物理场的特定期间部分的测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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