[发明专利]用于存储器单元的器件意识测试在审
| 申请号： | 202080076817.0 | 申请日： | 2020-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN114641826A | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 莫塔乔拉·陶伊尔;赛义德·哈姆迪乌伊 | 申请（专利权）人： | 代尔夫特技术大学 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G06F30/333 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;王艳春 |
| 地址： | 荷兰代*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
公开了一种用于测试集成电路器件(1)的方法，该方法包括：对集成电路器件(1)进行缺陷建模；基于从缺陷建模获得的信息对集成电路器件(1)进行故障建模；基于从故障建模获得的信息进行测试开发；以及对集成电路器件(1)执行测试。对集成电路器件(1)进行缺陷建模包括：执行对集成电路器件(1)的物理缺陷分析(10)，以提供从与集成电路器件(1)相关联的一组无缺陷技术参数(Tp |
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| 搜索关键词： | 用于 存储器 单元 器件 意识 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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