[发明专利]闪烁器阵列、闪烁器阵列的制造方法、放射线检测器及放射线检查装置在审

专利信息
申请号: 202080073790.X 申请日: 2020-10-30
公开(公告)号: CN114586110A 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 近藤弘康;森本一光 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝高新材料公司
主分类号: G21K4/00 分类号: G21K4/00;H01L27/146;A61B6/03;G01N23/046;G01T1/20
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 白丽
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的闪烁器阵列具备结构体和第2反射层,所述结构体具备至少一个闪烁器节和反射光的第1反射层,至少一个闪烁器节及第1反射层具有第1表面和第2表面,至少一个闪烁器节具有包含稀土类氧硫化物荧光体的烧结体,所述第2反射层介由厚度为2μm~40μm的粘接层而设置于第1表面上且包含反射光的膜。
搜索关键词: 闪烁 阵列 制造 方法 放射线 检测器 检查 装置
【主权项】:
暂无信息
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