[发明专利]用于样品分析的装置和方法在审
| 申请号： | 202080048249.3 | 申请日： | 2020-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN114026421A | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | M·A·海登;J·B·哈夫;N·J·科利尔;K·X·Z·余 | 申请（专利权）人： | 雅培制药有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/53 | 分类号： | G01N33/53;G01N27/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 郭佩;李唐 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 数字微流控和分析物检测装置包括第一基材和第二基材，所述第一基材和所述第二基材在侧视图中彼此大体平行地对齐且其间限定有缝隙。所述第一基材和所述第二基材中的至少一个具有电极阵列，所述电极阵列被配置为产生电致动力以沿所述第一基材和所述第二基材中的所述至少一个在缝隙内推动至少一个液滴。所述电极阵列具有在平面图中限定电极阵列区域的多个电极。所述第一基材和所述第二基材中的至少一个具有在平面图中限定井阵列区域的井阵列。所述井阵列区域被限定在所述电极阵列区域内并且与所述多个电极中的每一个的一部分重叠。所述井阵列区域在平面图中与所述电极阵列区域的小于75%重叠。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 样品 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
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