[发明专利]用于测量电磁辐射的强度的光电测量设备在审
| 申请号： | 202080037802.3 | 申请日： | 2020-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN113853511A | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 丹尼尔·迪策;沃尔夫冈·津克尔 | 申请（专利权）人： | 奥斯兰姆奥普托半导体股份有限两合公司 |
| 主分类号： | G01J1/04 | 分类号： | G01J1/04 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 张英 |
| 地址： | 德国雷*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 为了测量撞击在光电测量设备(1)上的电磁辐射(L)的强度，在提供第一探测信号的情况下用第一探测器(10)检测电磁辐射(L)。此外，在提供第二探测信号的情况下用第二探测器(20)检测电磁辐射(L)，其中，在光路(S)中，光谱滤波器(24)布置在第二探测器(20)的上游，以便电磁辐射(L)在被通过第二探测器(20)探测之前被过滤。借助于信号差测定器(30)，通过从第一探测信号中减去第二探测信号来产生差分信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 电磁辐射 强度 光电 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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