[发明专利]测定装置以及测定方法在审
| 申请号： | 202080036951.8 | 申请日： | 2020-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN113873934A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 坂口岁斗;斋藤直辉;松森孝平;冈崎龙太;北村尚美;冈本正吾 | 申请（专利权）人： | 株式会社资生堂 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;A61B5/11 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 蔡丽娜;韩香花 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 测定装置包括:触头(140)，其用于与测定对象接触；传感器(150)，其设置于上述触头(140)，用于对上述测定对象的至少表面状态进行测定；驱动部(170)，其用于使上述触头(140)和上述传感器(150)相对于上述测定对象位移；以及振动隔离部件，其设于上述驱动部(170)与上述触头(140)和上述传感器(150)之间，用于隔离自上述驱动部(170)向上述触头(140)和上述传感器(150)的振动，该测定装置基于上述传感器(150)的测定值对表面状态进行测定。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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