[发明专利]测试装置在审
| 申请号： | 202080021355.2 | 申请日： | 2020-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN113597561A | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 宋昌炫;郑宰欢 | 申请（专利权）人： | 李诺工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/18 | 分类号： | G01R1/18 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨文娟;臧建明 |
| 地址： | 韩国釜山市江西区美音产团路*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于测试待测试对象的电特性的测试装置。所述测试装置包括：区块，包括探针孔；多个信号探针，被支撑在探针孔中且被可缩回地配置成连接待测试对象的接触点与用于施加测试信号的信号接触点；同轴缆线，包括绝缘护套、被绝缘护套围绕的主芯体以及自绝缘护套暴露且自主芯体延伸以与信号探针接触的探针接触部分，其中信号探针的轴与同轴缆线的轴间隔开，且探针接触部分包括自绝缘护套暴露且沿着同轴缆线的轴延伸的线性延伸部分以及自线性延伸部分朝向探针的轴延伸的接触部分。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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