[发明专利]模式依赖损耗测定装置及模式依赖损耗测定方法在审
| 申请号： | 202080013318.7 | 申请日： | 2020-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN113424038A | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 长谷川健美;林哲也;川口雄挥 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B6/02 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的一个实施方式所涉及的模式依赖损耗测定装置对由耦合型MCF构成的被测定光纤的模式依赖损耗进行测定。该装置具有光源、受光器、模式耦合状态变化单元和解析部。光源使光输入至由其他耦合型MCF构成的激振用光纤的输入端。受光器对来自位于被测定光纤的输出端上的多个纤芯端面的输出光的功率之和进行检测。模式耦合状态变化单元使激振用光纤的模式耦合状态变化。解析部根据由受光器检测出的光功率的变动，求出被测定光纤的模式依赖损耗。 | ||
| 搜索关键词： | 模式 依赖 损耗 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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