[发明专利]不良图片缺陷等级识别的方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202080003018.0 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN115023603A | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 周全国;徐开琴;邹佳洪;张国林;黄巡;张青;周丽佳;王志东;沈鸿翔;唐浩;程久阳 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 刘金玲 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开公开了一种不良图片缺陷等级识别的方法、装置及存储介质，用以解决现有技术中存在的不能快速、准确的判断出对产品良率有实质性影响的不良图片的技术问题，该方法包括：从不良图片中确定出缺陷的缺陷尺寸(101)；根据不良图片对应的产品型号，确定缺陷所在位置相邻部件对应的图案的设计尺寸(102)；根据缺陷所属的不良类型，以及缺陷尺寸与设计尺寸大小关系，确定缺陷的缺陷等级；其中，缺陷等级为缺陷对产品良率的影响程度(103)。 | ||
| 搜索关键词： | 不良 图片 缺陷 等级 识别 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司，未经京东方科技集团股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202080003018.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
