[实用新型]一种测量紫外辐射照度的检定装置有效
| 申请号： | 202022711939.2 | 申请日： | 2020-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN213274574U | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 张智铭 | 申请（专利权）人： | 深圳华证计量检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/10 | 分类号： | G01J1/10;G01J1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种测量紫外辐射照度的检定装置，包括封闭箱，所述封闭箱内部的底端表面固定安装有支架底板，所述支架底板的上端表面固定安装有第一滑车，所述第一滑车的上端表面固定安装有第一测量台，所述支架底板的上端表面位于第一滑车的一侧固定安装有第二滑车，所述支架底板的上端表面位于第二滑车的一侧固定安装有第二测量台。本实用新型所述的一种测量紫外辐射照度的检定装置，通过设置的支架底板结构，能够精确定位各检定装置的位置，从而提升校准精度，提高工作效率，通过设置的封闭箱结构，能够营造密封的暗室环境，操作方便简单，大大减少了外界环境的干扰，且封闭自动检测试验，能够避免检定人员辐射过多的紫外线。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 紫外 辐射 照度 检定 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳华证计量检测技术有限公司，未经深圳华证计量检测技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202022711939.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种便携式地形测绘装置
- 下一篇：一种温度湿度复合检测试验装置
