[实用新型]一种上开门式老化测试柜有效
| 申请号： | 202022001818.9 | 申请日： | 2020-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN211785944U | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 杜建;曹锐;裴敬;邓标华 | 申请（专利权）人： | 武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 邱云雷 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种上开门式老化测试柜，其包括柜体、一老化测试板和至少一个测试核心板，柜体具有互相独立的第一温区和第二温区，老化测试板水平地设于第一温区内，测试核心板设于第二温区内，老化测试板与测试核心板信号连接，柜体顶部设有上开门，上开门用于启闭第一温区以对老化测试板进行上下料。采用上开门设计，一方面，可以使老化测试板水平固定，能保证待测芯片半导体与老化测试板上测试座的可靠接触连接，保证测试信号质量，提升了测试信号完整性；另一方面，不需要拔出老化测试板情况下就可以装载或取出测试芯片半导体，避免了老化测试板上连接器插拔寿命受限的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 开门 老化 测试 | ||
【主权项】：
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