[实用新型]主控芯片与存储芯片兼容性的测试电路有效
| 申请号： | 202021524254.0 | 申请日： | 2020-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN213024374U | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 李斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263;G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 | 代理人： | 林国友 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供了一种主控芯片与存储芯片兼容性的测试电路，运用于存储芯片测试技术领域，将XU4平台、主控芯片和存储芯片均安装于同一电路中进行内部走线的测试，测试电路包括XU4平台模块和测试平台模块，通过XU4平台模块和测试平台模块电流及数据传导，以解决XU4平台通过外部接线的方式传输信号至主控芯片和NAND Flash时速率过慢的技术问题，排除外接信号线的使用，提升数据传输速率。 | ||
| 搜索关键词： | 主控 芯片 存储 兼容性 测试 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
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