[实用新型]一种用于芯片测试的翻转结构

摘要

本实用新型属于芯片测试用辅助设备领域，尤其是一种用于芯片测试的翻转结构，针对现有的芯片测试用翻转装置将芯片固定的操作步骤复杂，耗费人力，实用性较差；难以对芯片实现有效的固定，工作质量较差的问题，现提出如下方案，其包括底板，底板的顶壁上固定有垂直的支撑板，支撑板的顶部通过轴承转动连接有水平的转轴，转轴的一侧侧端固定连接有安装箱，安装箱远离转轴的侧壁上开设有矩形的活动孔，活动孔的底部活动套接有水平的矩形的第二传动板，第二传动板滑动连接在安装箱的内侧壁上，活动孔的顶部活动套接有第一传动板，本实用新型设计新颖，方便将芯片固定，节省人力，实用性较高，可对芯片实现有效的固定，工作质量较高。