[实用新型]一种用于IC芯片的测试装置

摘要

本实用新型公开了一种用于IC芯片的测试装置，包括测试仪主体，所述测试仪主体的上表面固定安装有上盖壳，所述测试仪主体的前表面设置有测试槽，所述测试槽的表面活动安装有固定杆，所述测试仪主体的前表面位于测试槽的一侧设置有操作按键，所述测试槽的表面活动安装有计数机构。本实用新型所述的一种用于IC芯片的测试装置，能够省去人工点数的繁琐，有利于统计IC芯片的测试量和考核工作人员工作量，还能够调节测试仪主体与工作台面的高度，适应不同身高的操作人员进行测试，缓解操作人员长时间低头测试而颈部酸痛的问题，且测试仪主体升高后会空出其下部的工作台面以供放置IC芯片，从而达到有效利用工作台面的作用。