[实用新型]一种高精度微型芯片测试治具有效
申请号: | 202021085669.2 | 申请日: | 2020-06-13 |
公开(公告)号: | CN213149157U | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 张本伍;郗旭斌 | 申请(专利权)人: | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人: | 王贤义 |
地址: | 519180 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型旨在提供一种既能够提高生产效率,又能够实现探针与测试点精确定位,同时还能延长探针使用寿命的高精度微型芯片测试治具。本实用新型包括针板模组和载板模组,针板模组包括连接块、针模块、PCB转接板以及若干根探针,PCB转接板设置在连接块上,针模块设置在PCB转接板上,针模块的顶部设置有若干个针孔,探针穿过针孔后设置在PCB转接板上,载板模组包括连接板、固定板以及与待测芯片相适配的定位组件,定位组件设置在固定板上,固定板浮动连接在连接板上,连接块与连接板相连后针模块穿过连接板和固定板,探针适配在待测芯片的测试点上。本实用新型应用于电子芯片的测试领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 高精度 微型 芯片 测试 | ||
【主权项】:
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