[实用新型]铁基非晶合金薄膜裂纹检测装置有效

专利信息
申请号: 202021074564.7 申请日: 2020-06-11
公开(公告)号: CN212459446U 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 葛健芽;杨晓红;张正中;常春涛;贺爱娜;王金生;李文忠 申请(专利权)人: 金华职业技术学院
主分类号: G01N21/892 分类号: G01N21/892;G01B11/06
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 陈小莲
地址: 321017 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及非晶合金领域,提供一种铁基非晶合金薄膜裂纹检测装置,该铁基非晶合金薄膜裂纹检测装置包括测量组件,所述测量组件包括第一支撑杆、第一横杠、第二横杠、齿轮组件、齿带,第一测距传感器、第二测距传感器,所述第一横杠、所述第二横杠与所述第一支撑杆连接,所述第一横杠、所述第二横杠能够沿所述第一支撑杆垂直方向移动,由齿轮组件带动齿带运动,从而使得所述第一测距传感器、所述第二测距传感器能够在待测薄膜的垂直上方和垂直下方测量间距,再通过计算即可得到薄膜的厚度变化,进而能够在自动生产线不停止或中断的前提下,测量铁基非晶合金薄膜样本的裂纹情况,检测效率高。
搜索关键词: 铁基非晶 合金 薄膜 裂纹 检测 装置
【主权项】:
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