[实用新型]一种芯片测试机的翻转机构有效
| 申请号： | 202021019909.9 | 申请日： | 2020-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN212845753U | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 卞杰锋 | 申请（专利权）人： | 苏州全威电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试机的翻转机构，包括基座、升降结构、平移结构和，所述基座顶端的一侧固定连接有升降结构，且升降结构的一侧固定连接有平移结构，所述平移结构的底端固定连接有平移基座。本实用新型通过在架体外侧壁的四周均分别设置有放置槽，增加放置槽的数量，在测试机工作时，在架体四周的放置槽内分别放入一个芯片，再通过翻转机构分别对放置槽中的芯片进行检测，以此达到缩短检测时间，提高检测效率的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 翻转 机构 | ||
【主权项】：
暂无信息
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