[实用新型]一种通用测试设备框架及测试设备有效
申请号: | 202021005453.0 | 申请日: | 2020-06-04 |
公开(公告)号: | CN212965278U | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 黄庆云 | 申请(专利权)人: | 深圳市振云精密测试设备有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 深圳市龙成联合专利代理有限公司 44344 | 代理人: | 陈丽燕 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区10*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型提供一种通用测试设备框架及测试设备,所述通用测试设备框架包括上固定部和下固定部,所述上固定部包括安装板,所述下固定部包括装配台,所述安装板与所述装配台相互平行设置,所述安装板与所述装配台之间连接有第一驱动组件,上针测试模组可拆卸地安装在所述安装板的开口处,下针测试模组可拆卸地安装在所述装配台底面的开口处。所述第一驱动组件带动所述上针测试模组向下压合测试载板,所述测试载板在所述上针测试模组的推动下继续向下压合所述下针测试模组进行测试。本申请的通用测试设备框架可以根据不同待测物的测试需求更换上针测试模组和下针测试模组或测试载板就可以满足不同的测试需求,不需要再重新采用其他的治具框架。 | ||
搜索关键词: | 一种 通用 测试 设备 框架 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市振云精密测试设备有限公司,未经深圳市振云精密测试设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202021005453.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。