[实用新型]一种通用测试设备框架及测试设备有效

专利信息
申请号: 202021005453.0 申请日: 2020-06-04
公开(公告)号: CN212965278U 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 黄庆云 申请(专利权)人: 深圳市振云精密测试设备有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳市龙成联合专利代理有限公司 44344 代理人: 陈丽燕
地址: 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区10*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 通用 测试 设备 框架
【说明书】:

本实用新型提供一种通用测试设备框架及测试设备,所述通用测试设备框架包括上固定部和下固定部,所述上固定部包括安装板,所述下固定部包括装配台,所述安装板与所述装配台相互平行设置,所述安装板与所述装配台之间连接有第一驱动组件,上针测试模组可拆卸地安装在所述安装板的开口处,下针测试模组可拆卸地安装在所述装配台底面的开口处。所述第一驱动组件带动所述上针测试模组向下压合测试载板,所述测试载板在所述上针测试模组的推动下继续向下压合所述下针测试模组进行测试。本申请的通用测试设备框架可以根据不同待测物的测试需求更换上针测试模组和下针测试模组或测试载板就可以满足不同的测试需求,不需要再重新采用其他的治具框架。

技术领域

本实用新型属于测试治具技术领域,涉及一种通用测试设备框架及测试设备。

背景技术

在电子设备的制造中,需要使用大量的PCB板,为了保证产品的可靠性,需要对产品的PCB板进行测试。

随着科技的发展和变化,电子设备产品跟新换代越来越快,产品的PCB板的种类和尺寸都存在较大的差别。目前市面上的测试治具针对同一个的测试产品的不用测试需求,需要设计不同的治具来满足测试要求,增加了研发和生产的成本;治具之间的结构/框架不同,导致同一产品不同功能的测试结果会存在偏差,需要花费很多精力和时间来消除治具之间的测试差异性,增加了研发和测试的时间;不同治具的使用和规范操作不同,需要对操作人员的操作方式进行重新培训,人力成本高;多个种类的测试治具的摆放占用更多的空间,降低了空间利用率;对于更新换代后的产品,旧治具无法继续使用,只能报废,设备折旧成本高。

因此,现有技术存在同一个测试治具无法满足不同测试需求,需要分开不同测试设备进行测试的问题。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足,提供一种通用测试设备框架及测试设备,通过更换框架内安装的测试模组就可以满足不同的测试需求,不需要更换整个测试治具,操作简单,所占空间少,节约了大量的研发和生产成本。

为了实现上述目的,本实用新型采用了以下技术方案:

一种通用测试设备框架,包括上固定部和下固定部,所述上固定部可相对所述下固定部上下移动,所述上固定部包括安装板,所述下固定部包括装配台,所述安装板与所述装配台相互平行设置,所述安装板和所述装配台设有上下对应的开口结构,所述安装板与所述装配台之间连接有第一驱动组件,所述安装板在所述第一驱动组件的作用下相对所述装配台上下往复运动,上针测试模组可拆卸地安装在所述安装板的开口处,下针测试模组可拆卸地安装在所述装配台底面的开口处;

所述安装板顶部连接有预压块,所述安装板与所述预压组件配合用于上针测试模组的安装;所述装配台顶面连接有载板连接件,所述载板连接件与所述装配台水平滑动连接,所述载板连接件用于可拆卸地安装测试载板,所述测试载板用于放置待测物;

所述第一驱动组件带动安装在所述安装板的上针测试模组向下压合安装在所述载板连接件的测试载板,所述测试载板在所述上针测试模组的推动下继续向下压合所述下针测试模组。

优选地,所述第一驱动组件对称设置在所述装配台开口处两侧,所述第一驱动组件包括第一气缸和导向柱,所述第一气缸位于同侧两个所述导向柱之间,所述安装板在所述第一气缸的驱动下沿所述导向柱相对所述装配台上下往复移动。

进一步的,所述安装板设有用于安装所述导向柱的安装座,所述导向柱一端穿过所述安装座与所述安装座顶部的缓冲垫片连接,所述缓冲垫片远离所述导向柱一侧设有上模限位条。

优选地,所述安装板设有向所述装配台方向延伸的下压限位柱。

优选地,所述载板连接件连接有第二驱动组件,所述第二驱动组件水平设置于所述装配台,所述第二驱动组件带动所述载板连接件相对所述装配台水平移动。

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