[实用新型]芯片测试治具及系统有效
| 申请号： | 202020991989.8 | 申请日： | 2020-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN212255582U | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 卢群 | 申请（专利权）人： | 格科微电子（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 周书敏;张振军 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种芯片测试治具及系统，所述芯片测试治具，包括：测试板，所述测试板上设置有芯片放置区域，所述芯片放置区域设置有测试触点及真空孔，其中：所述真空孔用于连接抽真空装置，以通过所述真空孔内的真空吸力将待测试芯片吸附于所述芯片放置区域，当所述待测试芯片被吸附时，所述测试触点与所述待测试芯片的引脚接触。上述方案，能够提高芯片测试治具的通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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