[实用新型]一种X射线镀层测厚仪有效
| 申请号： | 202020297811.3 | 申请日： | 2020-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN211652625U | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 喻学立;黄文 | 申请（专利权）人： | 广东大鱼智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01B15/02 |
| 代理公司： | 深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙) 44585 | 代理人： | 钟斌 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种X射线镀层测厚仪，包括底盘，底盘上端一侧固定连接检测箱，底盘上端滑动连接移动平台，检测箱内上端固定连接X光射线管，检测箱上端一侧固定连接OCD相机，检测箱靠近X光射线管下端固定连接准直器，检测箱内一侧固定连接检测器，所诉检测箱上一侧固定连接若干控制键，检测箱上靠近控制键一侧设有拉把，本实用新型的结构简单实用，通过高压电激发X光射线管，从而产生X射线，X射线通过准直器聚焦在被测物体上，从而在被测物体上通过X射线荧光光谱被检测器吸收从而进行分析，通过计算得出被测物体的属性和构成，采用的X光射线能够对物体的结构和属性进行快速测量，加快效率，并且能够更加精细和精确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 镀层 测厚仪 | ||
【主权项】：
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