[实用新型]一种集成电路测试装置的导电体组件有效
申请号: | 202020120908.7 | 申请日: | 2020-01-19 |
公开(公告)号: | CN211979118U | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 王淑凤 | 申请(专利权)人: | 王淑凤 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 362142 福建省泉*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种集成电路测试装置的导电体组件,涉及集成电路测试技术领域,包括安装板、导电测试头和辅助板,辅助板固定设置在安装板上,安装板内开设有安装孔,安装孔内套设有连接导线,导电测试头安装在连接导线一端,安装板一侧固定设置有缓冲机构,连接导线固定设置在缓冲机构上,连接导线一端固定设置有连接头,安装板顶部和底部均通过螺纹孔安装有固定螺栓,辅助板内开设有吸尘腔,吸尘腔上开设有安装槽,吸尘腔一侧开设有排气槽,本实用新型结构合理且新颖,导电测试头可根据实际需求灵活调节,同时使用时能够自动对导电测试头上的粉尘进行吸附,避免导电测试头上附着过多粉尘影响导电性能,实用性较强。 | ||
搜索关键词: | 一种 集成电路 测试 装置 导电 组件 | ||
【主权项】:
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