[实用新型]一种电子元件测试装置有效
| 申请号： | 202020077761.8 | 申请日： | 2020-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN212379434U | 公开（公告）日： | 2021-01-19 |
| 发明（设计）人： | 何海龙 | 申请（专利权）人： | 泗洪鑫宇阳电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R15/12;G01R31/01 |
| 代理公司： | 北京高航知识产权代理有限公司 11530 | 代理人： | 乔浩刚 |
| 地址： | 223900 江苏省宿*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电子元件测试装置，包括顶块和底座，顶块内设有万用表，所述底座固定于顶块下端，底座两侧内对立设有两组操作室，且底座内设有卡盒通道，卡盒通道内活动设有电子元件卡盒，所述操作室底部固定设有支撑架，所述支撑架内设有表笔，且两组操作室与卡盒通道之间均设有表笔通道，所述电子元件卡盒由多组电子元件卡块组成，所述电子元件卡块顶部设有与电子元件形状相匹配的凹槽。该电子元件测试装置通过在顶块上设置万用表，并设置表笔与万用表连接，设置电子元件卡盒用于放置多组电子元件，从而可将表笔从表弟通道内插入电子元件卡块内，通过表笔与万用表对电子元件进行测试，从而可实现依次对多组电子元件的电路通路检测工作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
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